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切片剖析与丈量

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产品先容

切片剖析与丈量


简要先容:

切片,cross-section, x-section, 是用特制液态树脂将样品包裹固封,然后举行研磨抛光的一种制样要领,检测流程包括取样、固封、研磨、抛光、最后提供形貌照片、开裂分层巨细判断、或尺寸等数据。是一种视察样品截面组织结构情形的最常用的剖析手段。


应用领域:

PCBA、毗连器等电子零部件。

 

参考标准:

IPC-TM650-2.1.1/2.25、IPC-A-610D、GB/T 6462等。

 

主要仪器:

金相显微镜或立体显微镜、研磨机、切割机。

 

案例先容:

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X切片剖析与丈量-毗连器试验,新能源电控件可靠性试验,气体侵蚀试验,循环盐雾试验,高加速攻击试验,防尘防水试验

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